X-RAY膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片主要用于檢驗(yàn)電解測(cè)厚儀的準(zhǔn)確性，該標(biāo)準(zhǔn)片經(jīng)保護(hù)材料研究所檢驗(yàn)認(rèn)證，為電解測(cè)厚儀厚度標(biāo)準(zhǔn)檢驗(yàn)片，由于產(chǎn)品精度高，均勻性好，在電鍍行業(yè)中一直作為厚度的統(tǒng)一標(biāo)準(zhǔn)而得到大量的使用。是測(cè)量已知厚度或組成的標(biāo)準(zhǔn)樣品，根據(jù)熒光X-射線的能量和強(qiáng)度及相應(yīng)鍍層厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系，來得到標(biāo)準(zhǔn)曲線。之后以此標(biāo)準(zhǔn)曲線來測(cè)量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對(duì)于PCB,五金電鍍,半導(dǎo)體等行業(yè)使用測(cè)厚儀來檢測(cè)品質(zhì)和控制成本起到了很重要的作用。
X-RAY膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片可用標(biāo)準(zhǔn)塊的單位面積厚度單位校準(zhǔn)儀器，厚度值必須伴隨著覆蓋層材料的密度來校正。標(biāo)準(zhǔn)片應(yīng)與被測(cè)試樣具有相同的覆蓋層和基體材料，但對(duì)試樣基材為合金成分的，有些儀器軟件允許標(biāo)樣基材可與被測(cè)試樣基材不同，但前提是鍍層標(biāo)準(zhǔn)片基體材料與試樣基材中的主元素相同。
X-RAY膜厚儀標(biāo)準(zhǔn)片標(biāo)準(zhǔn)校正是為了補(bǔ)正每個(gè)單位面積的電解量，來校正橡膠測(cè)頭的電解面積、電解液的效率劣化、定點(diǎn)流裝置的變化等。主要還是使用于橡膠測(cè)頭的電解面積的補(bǔ)正。鍍層標(biāo)準(zhǔn)片校正時(shí)請(qǐng)使用所購買的附屬品標(biāo)準(zhǔn)片Ni/Fe來執(zhí)行。由于橡膠測(cè)頭為橡膠制品，因此根據(jù)電解液或者電解過程中生成的物質(zhì)，使用多次后會(huì)引起老化現(xiàn)象，使得電解面積產(chǎn)生變化，因此加在每個(gè)單位面積上的電流值的變化，也使要電解的時(shí)間改變了。通過利用校正來讓每個(gè)單位面積上通過一定的電流，為此一定要進(jìn)行和實(shí)際鍍層一樣的標(biāo)準(zhǔn)片（或不一樣的標(biāo)準(zhǔn)片）的校正。
